Teilprojekt B07

Charakterisierung mikrostrukturierter Bauteiloberflächen

Der Schwerpunkt des Teilprojekts B07 ist die skalenübergreifende, ortsaufgelöste Erfassung und Charakterisierung der Geometrie und des Materials von mikrostrukturierten Bauteiloberflächen. Das Teilprojekt hat dabei zwei wesentliche Ziele: Erstens, die Erweiterung der modellbasierten Analyse und Signalverarbeitung des von der DFG finanzierten Ellipso-Höhen-Topometers und zweitens, die Integration eines hochauflösenden AFM-ähnlichen „Akiyama“-Sensors in den optischen Messaufbau. Weiterhin werden die Messdatenfusion von Topographie,  Materialkontrast und Härtemessungen (in Kooperation mit B04), sowie die Entwicklung neuer Charakterisierungsmethoden für die Konfokalmikroskopie (in Kooperation mit C03) die Charakterisierung der Morphologie von Bauteiloberflächen vorantreiben und zum gemeinsamen Ziel der Korrelation mit Funktionseigenschaften beitragen.

Leitung:

Prof. Dr.-Ing. Jörg Seewig

Wissenschaftliche Mitarbeiter:

Dipl.-Ing. Indek Raid
Dr.-Ing. Matthias Eifler
Dipl.-Ing. Felix Ströer

Gefördert durch

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Letzte Änderung: 06.07.2016